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    賽默飛掃描電鏡產(chǎn)品介紹

    信息編號:37469   更新時間:2025年07月09日 07:05   已被閱讀2600次
    • 區(qū) 域:城陽
    • 類 別:轉讓
    • 新 舊:全新
    • 價 格:999999

    詳細說明

    電鏡型號:Strata 400/Helios NanoLab 400/400S/450S/600i。
    1、FEI Helios400/450:以其超高分辨率和出色的成像能力著稱。無論是納米級別的材料結構分析,還是微觀形貌的精細表征,Helios400/450 都能提供清晰、準確且極具細節(jié)的圖像信息。在半導體芯片研發(fā)、材料科學研究等領域,它能夠助力科研人員深入探究微觀世界的奧秘,為技術創(chuàng)新提供有力的數(shù)據(jù)支持。
    2、 FEI Strata400:具備穩(wěn)定可靠的性能表現(xiàn)。在對各類樣品進行檢測時,可高效地獲取微觀結構信息,其精準的分析功能對于地質研究中礦物的微觀特征分析、生物醫(yī)學領域細胞組織的微觀結構研究等有著重要意義,能夠幫助專業(yè)人員快速定位關鍵信息,推動相關領域研究的進展。
    3、 Quanta600F:擁有強大的適應性和多功能性。可以對不同形態(tài)、不同材質的樣品進行掃描分析,無論是金屬、陶瓷、聚合物等固體材料,還是液體、粉末等特殊樣品,Quanta600F 都能輕松應對,為材料工程、化學化工等多行業(yè)的質量控制、新產(chǎn)品研發(fā)等環(huán)節(jié)提供全面且深入的微觀檢測服務。
    4、FEI FIB200:專注于聚焦離子束技術應用。在微納加工、樣品制備等方面展現(xiàn)出獨特的優(yōu)勢。通過精確的離子束刻蝕與沉積功能,能夠在微觀尺度上對樣品進行精細加工與改性,為納米制造、電子器件研發(fā)等前沿領域提供了不可或缺的技術手段,助力科研人員突破微觀工藝的瓶頸。

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